TELJES KATALÓGUS
	Bejelentkezés	|	Keresés vége	|	Beállítások	|	Adatbázisok	|	Súgó	|	Bemutató
	Böngész	|	Keres	|	Találatok	|	Korábbi keresések	|	Saját e-polc	|	BME OMIKK Könyvtár

Rekord teljes nézete

1 / 1 rekord

Raktári jelzet	K-8118
Internet-cím	E-verzió http://hdl.handle.net/10890/419
Könyvtár info	Központi könyvtár
Országkód	hu
Nyelvkód	hun
Szerző	Makkai Zsolt
Cím	III-nitrid vékonyrétegek és SiC nanoszemcsék elektronmikroszkópiája
Szerzőség	Makkai Zsolt
Év	2005
Terjedelem	107 fol. 31 cm
Speciális adat	Doktori (Ph.D.) értekezés
Disszertáció	Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem. Természettudományi Kar (2005-12-20)
Témavezető	Pécz Béla
Bibliográfia	Bibliogr.: fol. 103-107.
Tárgyszó	Vékonyréteg-technika
	Nitrid
	Szilícium
	Karbid
	Szövetszerkezet-vizsgálat
	Elektronmikroszkóp
ETO	546.6’171.1:[539.23]//1966-2005
	546.281’261:[539.23]//1966-2005
	539.232:620.187//1966-2005
	620.187:539.232//1966-2005
Párhuzamos cím	Electron microscopy of III-nitrid thin films and SiC nanocrystals

© 2006 Ex Libris